半导体制造中的泄漏测试
泄漏检测是半导体制造质量控制的关键环节，但这个过程不必繁琐复杂。传统的氦气泄漏检测往往意味着需要搬运笨重的氦气瓶、管理数米长的软管、操作复杂的设备。这些挑战不仅拖慢检测速度，还增加了出错风险和安全隐忧。
INFICON 推出的 SMART-Spray 无线移动氦气喷枪彻底改变了这一局面，显著提升了泄漏检测的效率、速度、精度和操作舒适度。改变究竟有多大？让我们通过 SMART-Spray 与传统氦气泄漏检测的直观对比，清晰展现其革新价值。
不带和带SMART-Spray的泄漏检测
传统方式 vs SMART-Spray
使用 SMART-Spray 之前：
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